1.2.1　X射线荧光光谱

如表1-3所示，尽管X射线荧光光谱法（XRF）对稀土元素分析敏感度较低，但该技术仍是一种可靠的μg/g级别的微量元素分析方法。XRF作为一种常规的稀土元素分析技术，在准确度、速度和成本等方面与其他方法相比具有明显的优势，而它唯一的缺点就是灵敏度相对较低。根据激发、色散和检测方法的不同，可分为波长色散X射线荧光光谱法（WD-XRF）和能量色散X射线荧光光谱，这两种方法已成功地应用于地质和环境物质中稀土元素的测定。一般而言，由于该技术为稀土元素提供了较高的检测下限，所以许多测定方法都涉及分离和预浓缩步骤，以便准确测定稀土元素。例如，Juras等[26]发展了一种能快速、灵敏地分析样品中稀土元素的方法，通过离子交换将所有稀土元素与超镁铁质岩和流纹岩中其他成分分离后，用X射线荧光光谱法（XRF）分析各种成分。Wu等[27]对XRF分析技术在中国稀土行业中的应用进行了综述，其应用包括矿石和土壤、精矿、化合物、金属、合金及功能材料中的稀土元素分析，和分离过程中的快速在线分析等。Smolinski等[28]已使用WD-XRF测定了波兰煤矿中煤燃烧灰分中 16种稀土元素的含量。近年来，便携式XRF被成功应用于La、Ce、Pr、Nd等稀土元素的现场定量，以及Y、Th、Nb等元素的化学勘探研究中的稀土元素寻径仪。这些小工具在该领域极具价值，有助于迅速确定勘探、矿石品级控制和环境可持续性研究的下一步行动方向。